Wireless pad-free integrated circuit debugging by powering modulation and lock-in infrared sensing


AU: 
Leon, J; Perpina, X; Vellvehi, M; Baldi, A; Sacristan, J; Jorda, X
SO: 
APPLIED PHYSICS LETTERS
Autores del GTQ: 
VL: 
102
IS: 
8
BP: 
084106
PY: 
2013
SN: 
0003-6951
Impact: 
3.84
Año IF: 
2011
Percentil: 
HIGH
Año Percentil: 
2011
Categoría: 
PHYSICS, APPLIED